Término solicitado: NICOLAIDIS, M.^RED./(22)
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| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Paper |
| Autor: | Gizopoulos, D.. ed.; Chatterjee, A.. ed.; Nicolaidis, M.. ed.; Santos, M.. ed. |
| Reunión: | Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. Nueva Jersey. US, IEEE International on-line testing symposium, 15, IOLTS 2009, Sesimbra. PT, 2009 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Nueva Jersey. US. IEEE. 2009. |
| Pág./Vol.: | 277p. |
| Descriptores: | Circuitos; Monitoreo; Seguridad; Mediciones; Conductividad térmica; Semiconductores; Técnicas de evaluación; Fallas; Medidas de seguridad; Detectores; Errores; Microprocesadores; Multiprocesadores; Tolerancia; Radiación; Ensayos; Sensores remotos |
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| Ubicación: | Electrónica/1 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica |
Fin
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